Deltamu sera présente une nouvelle fois au CAFMET 2016, 6e conférence internationale de métrologie, qui se déroulera du 21 au 24 mars 2016 à Dakar au Sénégal. Pour cette nouvelle édition nous serons présents en tant que conférencier et également en tant que sponsor.
Le Comité Africain de Métrologie (CAFMET) organise ce carrefour international d’échanges d’informations, d’idées et d’expériences en Métrologie, autour de conférences, de tables rondes, d’ateliers techniques et de stands d’exposition.
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Le calcul d’incertitude, même s’il n’est pas encore tout à fait entré dans les mœurs de tous les industriels, occupe de plus en plus de métrologues à travers le monde. Pour les aider dans cette tâche, le J.C.G.M. WG 1 a publié en 1995 le document J.C.G.M. 100, plus connu sous le nom de G.U.M.
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La question de la dérive des instruments de mesure est une question essentielle en métrologie. L’étalonnage fait un « état métrologique » de l’instrument à la date de sa réalisation, mais qu’en sera-t-il demain, dans un mois, au terme de sa périodicité ? Si, dans le cas de certains instruments, cette question peut être convenablement traitée (notamment les instruments dits « à cote fixe », par exemple les étalons « physiques » et les calibres à limites), elle est plus délicate pour les instruments « mesureurs ».
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Suivant les recommandations du GUM, il est d’usage d’analyser un processus d’étalonnage en établissant un bilan d’incertitude, c’est à dire en listant toutes, ou du moins le plus grand nombre, de causes d’incertitude. Les différentes composantes d’incertitudes sont quantifiées à l’aide d’une méthode de type A ou de type B. L’incertitude est alors déduite en sommant en variance ces incertitudes type.
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Deltamu sera présente au CAFMET du 31 mars au 3 avril en Afrique du Sud à Prétoria. Jean-Michel Pou animera une conférence sur la nouvelle norme NF ISO/CEI Guide 98-4 (2013) ainsi qu’un tutoriel sur le calcul d’incertitude de mesure, suivant le GUM et le GUM S1.
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Découvrez le nouvel article de Jean-Michel Pou pour l’AFNOR BiVi.
L’article intitulé « La capabilité des processus de mesure » traite des différentes stratégies disponibles pour prendre en compte l’incertitude de mesure dans la déclaration de conformité. Ce nouvel article aborde le choix des processus de mesure dans les différents contextes, capabilité ou norme NF ISO/CEI Guide 98-4 (2013).
http://www.bivi.metrologie.afnor.org/ofm/metrologie/iii/iii-20/iii-20-21/2
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L’évaluation des écarts-types par les méthodes de type A est une étape importante dans l’estimation des incertitudes de mesure. Souvent, le métrologue se pose la question du nombre de valeurs qu’il faut répéter pour que l’estimation qu’il obtient soit d’une qualité suffisante.
La question du nombre d’échantillons mérite par conséquent que nous nous y attardions un peu afin de la considérer dans un contexte général …
La formule de l’écart-type calculée sur un échantillon de n valeurs x1,…,xn, telle que nous la connaissons (C’est à dire s’=, dit écart-type empirique), n’estime pas sans biais le « véritable » écart-type « σ » (dit écart-type théorique) de la population dont l’échantillon est issu, c’est à dire l’objet mathématique qui a les propriétés que nous avons tous appris (68% des valeurs dans ± 1.σ si la loi parente est normale) ) et ceci est d’autant plus vrai que l’estimation est obtenue avec peu de valeurs (ce qui est souvent le cas en métrologie).
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