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La dérive des instruments « mesureur »

Comme promis, je vais aborder la problématique de l’évaluation de la dérive pour les instruments « mesureur ».

Avant de traiter un exemple, il faut avoir à l’esprit un certain nombre de choses. Je vais donc commencer par évoquer lesdites choses puis, dans la semaine, je traiterai un exemple.

Point 1 : Un instrument est forcément imparfait. Il peut présenter des erreurs ayant un caractère aléatoire et des erreurs ayant un caractère systématique (Biais et Offset). Pour ma part, j’aime bien schématiser les instruments suivant la figure présentée ci dessous :

Donc, si dérive il y a, elle peut concerner l’une ou l’autre de ces erreurs. Par ailleurs, les instruments peuvent présenter d’autres types d’erreur (hystérésis par exemple) que je ne traiterai pas ici. Pour estimer les dérives, il convient donc de traiter les résultats d’étalonnage pour distinguer la part systématique et la part aléatoire. En ce sens, la nouvelle définition du VIM3 pour « Etalonnage » va être d’un grand secours car elle impose(rait) aux laboratoires de faire ce travail. Ils ont à leur disposition le travaux du CFM et le logiciel M-CARE, téléchargeable gratuitement.

Point 2 : Pour distinguer ces deux erreurs, il faut aller plus loin que traditionnellement dans l’évaluation des incertitudes d’étalonnage. En effet, les bilans sont faits aujourd’hui pour tenir compte de ce qui se passe tout au long de l’année. Or, dans la durée d’un étalonnage, toutes les causes d’incertitude n’ont pas forcément l’opportunité de s’exprimer. Il est très important d’avoir compris ce point pour aller plus loin. Je vous invite à lire le doc partagé sur le lien : Causes d’incertitude HO et LO

Point 3 : La signature des processus d’étalonnage. Pour distinguer la part éventuelle de l’instrument de mesure étalonné, Deltamu propose depuis près de 10 ans une stratégie basée sur la simulation numérique. Cette stratégie a été retenue dans le cadre des travaux du C.F.M. Vous pourrez lire utilement la conférence proposée sur ce thème au Congrès international de Métrologie de Lyon, en 2005: Les étalonnages vus sous l’angle statistique

Bonne lecture et à très vite sur ce blog !

Bon dimanche

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