Une piste pour évaluer l’impact de la dérive dans l’incertitude des processus de mesure faisant appel à des instruments « mesureurs »
La question de la dérive des instruments de mesure est une question essentielle en métrologie. L’étalonnage fait un « état métrologique » de l’instrument à la date de sa réalisation, mais qu’en sera-t-il demain, dans un mois, au terme de sa périodicité ? Si, dans le cas de certains instruments, cette question peut être convenablement traitée (notamment les instruments dits « à cote fixe », par exemple les étalons « physiques » et les calibres à limites), elle est plus délicate pour les instruments « mesureurs ».
Lire la suite
Dérive des instruments « Mesureur » : Suite
Il y a quelques jours, j’avais commencé à évoquer le problème de l’évaluation de la dérive des instruments « mesureur ». La dérive des instruments « mesureur »
Vous trouverez la suite de cette analyse dans le document sous ce lien.
Il ne s’agit que d’une approche qui peut évidemment se discuter. Elle fait appel à la notion de « signature des processus d’étalonnage ».
Lire la suite
La dérive des instruments « mesureur »
Comme promis, je vais aborder la problématique de l’évaluation de la dérive pour les instruments « mesureur ».
Avant de traiter un exemple, il faut avoir à l’esprit un certain nombre de choses. Je vais donc commencer par évoquer lesdites choses puis, dans la semaine, je traiterai un exemple.
Point 1 : Un instrument est forcément imparfait. Il peut présenter des erreurs ayant un caractère aléatoire et des erreurs ayant un caractère systématique (Biais et Offset).
Lire la suite
