La norme NF ISO 22514-7 est publiée en Janvier 2013 dans la collection des normes AFNOR.
Elle traite de l’aptitude des processus de mesure. Elle situe la problématique de l’aptitude des processus de mesure dans le cadre du suivi de production, c’est à dire de la Maitrise Statistique des Procédés (MSP ou SPC). J’ai écrit, en mai 2012, pour la revue Contrôles Essais Mesures, un article sur le sujet de la Capabilité (synonyme d’Aptitude dans le vocabulaire du Métrologue) où je soulignais l’origine de cette notion qui a « glissé » vers une capabilité « tout court », sensée définir l’aptitude d’un processus de mesure à déclarer la conformité d’un objet.
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Je me dois vous faire connaitre une remarque particulièrement pertinente que j’ai entendue cette semaine, dans le cadre du groupe AFNOR chargé de rédiger une norme sur la « Validation de Méthodes ».
Dans la discussion, Mme Catherine Yardin (LNE) faisait remarquer, à juste titre à mon avis, qu’il serait judicieux de s’assurer que l’écart-type global Sdj obtenu lors d’un essai inter-laboratoire était effectivement différent de l’écart-type de répétabilité Srj.
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Depuis de nombreuses années, je traite de la problématique de la prise en compte des incertitudes de mesure dans la déclaration de conformité et je défends la position que prône la nouvelle norme.
Copie du document JCGM 106 publié en 2012, cette norme est sortie, au niveau international, l’année même de la publication du document 106. Ceci prouve, s’il en était besoin, le poids du JCGM dans la Métrologie internationale.
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Deltamu organise, du 19 au 21 Mars, un stage inter-entreprise à Clermont-Ferrand suivant son programme ME04 (Amélioration du Service Métrologie : Stratégies et Outils). Inscrivez vous en suivant le lien :
Formation Deltamu du 19 au 21 mars 2013
Ce nouveau programme vise à aider les Métrologues d’entreprise à optimiser la gestion de leur fonction. Les sujets « Incertitude de mesure », « Surveillance », « Périodicité », « Maitrise Statistique des Procédés » sont abordés en profondeur, suivant les désidérata des participants.
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Prochaine session de formation Inter-Entreprise programmée du 3 au 5 Avril 2013. Il s’agit d’expliquer les conséquences de l’évolution de la définition du mot « Etalonnage » dans la dernière édition du V.I.M (Vocabulaire International de la Métrologie). Le Collège Français de Métrologie (C.F.M) a réuni un groupe de réflexion sur ce thème et la formation proposée reprend les préconisations de ce groupe.
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Rien de spécial à annoncer cette semaine.
On peut tout de même indiquer que le Collège Français de Métrologie a lancé vendredi dernier une enquête dans le cadre de l’organisation de ses prochaines Journées de la Mesure, programmée en 2014. Pour aider à organiser cette manifestation, vous pouvez répondre à l’enquête en suivant le lien suivant :
Enquête Collège Français de Métrologie
Les Journées de la Mesure s’adressent aux industriels.
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Cette semaine, la commission X07 (Métrologie) de l’AFNOR s’est réunie en séance plénière. Rien de très nouveau à l’ouest…
L’AFNOR a lancé un groupe de travail chargé de rédiger un fascicule de documentation portant sur l’application de la nouvelle norme ISO / IEC GUIDE 98-04 traitant de l’utilisation de l’incertitude de mesure dans la déclaration de conformité. Les débats ont d’ores et déjà été intéressant et je ne doute pas que ce fascicule trouvera sa place dans la collection AFNOR et surtout, dans le quotidien des industriels.
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