Pour cette fin d’année, nous vous proposons deux webinars pour en savoir plus sur les outils statistiques en métrologie et la modélisation des résultats d’étalonnage avec l’outil M-CARE.

Ces deux prochains webinars seront animés par Jean-Michel Pou, Président fondateur de Deltamu et co-auteur du livre La Smart Metrology, de la métrologie des instruments à la métrologie des décisions et Didier Bozonnet, Gérant de Boozconsult, auditeur qualité certifié ICA, métrologue et formateur .

Quels outils de statistiques pour la métrologie ?

On ne le dit pas assez mais le GUM, le GUM S1 et les normes de la série ISO 5725 sont des « précis de statistiques » à usage des métrologues. Si les métrologues ont besoin d’avoir des connaissances physiques importantes pour étudier les facteurs en œuvre dans leurs processus de mesure, ils doivent aussi maitriser les outils statistiques leur permettant d’évaluer leurs incertitudes de mesure et leurs prises en compte. Pour les y aider, Deltamu a décidé de mettre à la disposition de la communauté des métrologues 3 fascicules dont les deux premiers feront l’objet d’une présentation lors de ce webinar, le 3ème faisant l’objet du webinar prochain, en décembre.

Au programme :

• Les lois de probabilités et leurs paramètres
• La théorie des petits échantillons : qu’est qu’un estimateur ?
• Les propriétés des variances
• Les propriétés des covariances
• La simulation numérique
• Les tests statistiques

Il est réellement stupéfiant de constater que la pratique en matière d’étalonnage n’a pas évolué alors que le VIM, depuis 2008, précise que l’étalonnage doit comporter une phase de modélisation. En effet, comment se contenter de 2, 3 voire 10 points sur une étendue de mesure pour statuer sur la totalité des capacités de mesure d’un instrument. La modélisation ne consiste pas à faire plus de points de mesure mais à traiter les résultats pour « deviner » ce qui n’a pas été vu. Il s’agit donc, comme dans de nombreuses applications statistiques, de considérer les points d’étalonnage comme on considère des échantillons et d’en « tirer » des informations pertinentes sur les caractéristiques métrologiques globales de l’instrument. Les participants à ce webinar recevront le 3ème fascicule traitant de ce sujet.

Au programme :

• La modélisation, pourquoi ?
• Les paramètres des modèles et leurs nécessaires incertitudes associées
• Les méthodes de modélisation par les moindres carrés
• La signature des processus d’étalonnage : la correction est-elle nécessaire ?
• L’incertitude de modélisation
• M-CARE : La solution simple et gratuite pour les métrologues

Nous vous attendons nombreux sur ces deux webinars et espérons qu’ils vous plairont tout autant que nos autres webinars et pourront vous éclairer sur certains points.

En attendant nous vous invitons à consulter la playlist WEBINARS de notre chaine Youtube sur laquelle vous retrouverez tous nos replays, notamment les deux derniers  sur la norme 21 CFR Part 11 avec EFOR-CVO et sur les solutions d’étalonnage pour gagner du temps et sécuriser les données 👇

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