De nombreux industriels se plaignent de la difficulté de compréhension des documents d’étalonnage. Les concepts de « Etalonnage » et de « Vérification » sont souvent confondus alors qu’il s’agit d’actions différentes. L’étalonnage consistait, jusqu’en 2008 si on respectait scrupuleusement le V.I.M, à déterminer des erreurs en comparant un étalon ou une indication d’instrument de mesure à une valeur de référence (valeur étalon du laboratoire pratiquant l’étalonnage).
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Rappelez vous que vous pouvez participer à la normalisation en vous inscrivant sur le site AFNOR réservé aux enquêtes publiques (Voir dans mes publications antérieures).
Deux nouvelles enquêtes ont été lancées cette semaine :
Caractéristiques nominales des instruments sans contact (à variation focale)
État de surface : Surfacique — Partie 1 : Indication des états de surface
Pour les gens concernés, n’hésitez pas à réagir en vous inscrivant sur le site AFNOR :
J’avais indiqué récemment que j’avais écrit un article traitant de la nouvelle norme ISO / IEC Guide 98-4 pour la revue Contrôles Essais Mesures.
Cet article est aujourd’hui publié et vous pouvez le télécharger en suivant le lien ci-dessous :
Il s’agit d’expliquer le principe défendu dans cette norme dans le cadre de l’utilisation de l’incertitude de mesure dans la déclaration de conformité.
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On peut avoir des appréhensions à participer à des commissions de normalisation. On peut aussi ne pas voir vraiment le temps de se déplacer. Peut être même ne souhaite-t-on pas assumer les coûts inhérents à la participation. En effet, il faut être adhérent à l’AFNOR pour pouvoir participer et les frais de déplacements et de restauration ne sont pas pris en charge.
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Depuis que je fais de la Métrologie, j’entends que la définition du kilogramme étalon va changer. On parle depuis longtemps de la balance du Watt, plus récemment de la sphère de silicium, voilà qu’on apprend qu’une troisième voie vient de s’ouvrir…
Nouvelle piste pour le kilogramme étalon…
Est ce que là aussi, trop de choix tue le choix ?
A suivre…
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La norme NF ISO 22514-7 est publiée en Janvier 2013 dans la collection des normes AFNOR.
Elle traite de l’aptitude des processus de mesure. Elle situe la problématique de l’aptitude des processus de mesure dans le cadre du suivi de production, c’est à dire de la Maitrise Statistique des Procédés (MSP ou SPC). J’ai écrit, en mai 2012, pour la revue Contrôles Essais Mesures, un article sur le sujet de la Capabilité (synonyme d’Aptitude dans le vocabulaire du Métrologue) où je soulignais l’origine de cette notion qui a « glissé » vers une capabilité « tout court », sensée définir l’aptitude d’un processus de mesure à déclarer la conformité d’un objet.
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Je me dois vous faire connaitre une remarque particulièrement pertinente que j’ai entendue cette semaine, dans le cadre du groupe AFNOR chargé de rédiger une norme sur la « Validation de Méthodes ».
Dans la discussion, Mme Catherine Yardin (LNE) faisait remarquer, à juste titre à mon avis, qu’il serait judicieux de s’assurer que l’écart-type global Sdj obtenu lors d’un essai inter-laboratoire était effectivement différent de l’écart-type de répétabilité Srj.
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Depuis de nombreuses années, je traite de la problématique de la prise en compte des incertitudes de mesure dans la déclaration de conformité et je défends la position que prône la nouvelle norme.
Copie du document JCGM 106 publié en 2012, cette norme est sortie, au niveau international, l’année même de la publication du document 106. Ceci prouve, s’il en était besoin, le poids du JCGM dans la Métrologie internationale.
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Deltamu organise, du 19 au 21 Mars, un stage inter-entreprise à Clermont-Ferrand suivant son programme ME04 (Amélioration du Service Métrologie : Stratégies et Outils). Inscrivez vous en suivant le lien :
Formation Deltamu du 19 au 21 mars 2013
Ce nouveau programme vise à aider les Métrologues d’entreprise à optimiser la gestion de leur fonction. Les sujets « Incertitude de mesure », « Surveillance », « Périodicité », « Maitrise Statistique des Procédés » sont abordés en profondeur, suivant les désidérata des participants.
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Prochaine session de formation Inter-Entreprise programmée du 3 au 5 Avril 2013. Il s’agit d’expliquer les conséquences de l’évolution de la définition du mot « Etalonnage » dans la dernière édition du V.I.M (Vocabulaire International de la Métrologie). Le Collège Français de Métrologie (C.F.M) a réuni un groupe de réflexion sur ce thème et la formation proposée reprend les préconisations de ce groupe.
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