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La Smart Metrology n’a pas fini de vous étonner !

Nous avons publié, il y a déjà quelques temps, un article sur une forme d’inversement total des technologies de l’industrie du futur. La Smart Metrology répond également à cet inversement : de l’étalon de référence vers les étalons industriels ou … l’inverse ? Nous aurons en septembre prochain l’occasion de vous donner un exemple probant…

© photo prise par C2T

Dans le cadre du prochain Congrès International de Métrologie,  j’aurai le plaisir de présenter à l’oral une conférence, co-écrite avec Laurent Leblond et Christophe Dubois, qui pourrait révolutionner les pratiques dans les laboratoires d’étalonnage, notamment dans le cadre de la maîtrise de leurs prestations en général et des raccordements de leurs propres étalons en particulier.

Je ne vais pas ici dévoiler le contenu, mais simplement vous donner quelques pistes de réflexion pour « occuper » ceux d’entre vous qui seront les plus curieux. Pour tous en revanche, je vous invite à venir nombreux le 19 Septembre à 10h20 pour assister en direct à cette présentation.

En guise de « mise en bouche », je vous livre le résumé de la conférence :

La question des raccordements des étalons utilisés dans le cadre des étalonnages est une question centrale. Optimisées ou pas, les périodicités calendaires sont l’un des piliers de la qualité de ces raccordements. Conscients que celles-ci ne permettent pas de garantir à elles-seules la performance métrologique des étalons, les laboratoires s’imposent de réaliser, périodiquement également, des surveillances. Or, le fait d’étalonner des moyens divers et indépendants devrait permettre de détecter d’éventuels problèmes sur les étalons de référence. En effet, il n’y a pas de raison particulière pour qu’un ensemble de moyens indépendants ait, en moyenne un biais commun. Si un tel biais venait à être observé, il indiquerait probablement un biais sur l’étalon de référence qui sert aux étalonnages. Un exemple s’appuyant sur l’étalonnage des cales étalons et développé dans cet article permet d’argumenter en ce sens. 

Sans dévoiler l’ensemble de nos résultats, nous pouvons tout de même vous faire partager dès aujourd’hui 2 situations :

1) Dans un premier cas analysé, nous pouvons constater (Figure 1) que la moyenne des écarts est effectivement très proche de la valeur de référence mesurée par le L.N.E (Moins de 1 nanomètre d’écart !).

Figure 1 : Evolution temporelle de la mesure des écarts pour des cales étalons à partir d’un même étalon de référence

2) Dans quelques autres cas en revanche, très minoritaires, l’écart est très significatif (Figure 2 : plus de 600 nanomètres).

Figure 2

D’où vient le problème ???

La réponse à cette question peut-elle être donnée de façon définitive ou cette analyse doit-elle servir de base à une réflexion à conduire quotidiennement quant à l’état réel des étalons en service ? Réponse le 19 Septembre et débat sur notre stand G30 tout au long des 3 jours de la manifestation.

Jean-Michel POU

PS : Au-delà de cet exemple, la Smart Metrology sera évidemment au cœur de notre  participation à ce congrès, avec en prime de nombreuses surprises. Réservez vos dates, et notamment le 19 septembre, vous ne serez pas déçus !

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