Dal 19 al 21 settembre 2017, Deltamu era presente al Congresso Internazionale della Metrologia. Organizzato con la fiera ENOVA, il CIM è stato di nuovo un’occasione per riunire i diversi attori del mondo della metrologia per scambi costruttivi e/o appassionati sulla scienza della misura.

Durante questi 3 giorni, i nostri esperti hanno avuto il piacere di mettere in evidenza la Smart Metrology e tutti i servizi proposti da Deltamu. Attraverso le conferenze (la gestione dei campioni di riferimento nell’ambito della Smart Metrology caso dei set di blocchetti di riscontro di Jean-Michel Pou, il metodo della deriva del FD X 07-014: molto più di un semplice metodo di ottimizzazione da Olivier Demars e Christophe Dubois), di poster e di dialoghi con il team in loco, l’obiettivo di Deltamu è stato durante questi 3 giorni di dimostrare che la Smart Metrology è la soluzione migliore per prendere buone decisioni e quindi migliorare la produttività aziendale.

La Smart Metrology è già un pilastro dell’industria del Futuro. Il nostro obiettivo è quello di mostrarvi e sostenervi nella sua implementazione.

I più fortunati di voi che sono venuti al CIM potrebbero avere avuto l’opportunità di “incontrare” Elisa, la nostra Metrologa Smart.

Durante questi 3 giorni, Elisa era allo stand Deltamu. Stava proponendo, a chiunque volesse fermarsi qualche minuto, consigli di Smart Metrology e condivideva la sua analisi sulle pratiche attuali.

Forse avete anche avuto l’opportunità di giocare con Elisa effettuando un quiz per testare il vostro livello di Metrologo Smart. Altrimenti, non è troppo tardi per “valutare” e non esitate a contattare il nostro ufficio commerciale per qualsiasi richiesta!