Deltamu sarà di nuovo presente al Congresso Internazionale di Metrologia dal 19 al 21 settembre 2017 a Parigi (in concomitanza con il salone ENOVA).

Questi 3 giorni di eventi a carattere industriale permettono di seguire le evoluzioni delle tecniche, della ricerca e sviluppo e di scoprire applicazioni industriali pratiche, migliorare i propri processi di misura, analisi e prove (e quindi controllarne i rischi) e, infine, di trovare tecnologie e soluzioni di misura.

Il team Deltamu sarà presente in stand e conferenze e presentazioni di poster, per discutere tutti gli argomenti relativi alla scienza della misurazione: Smart Metrology, software di gestione delle apparecchiature per misurazione Optimu, tracciabilità, incertezze, ottimizzazione delle periodicità, C2I ecc …

Programma degli interventi degli esperti Deltamu

Martedì 19 settembre

• Conferenza: Gestione degli standard di riferimento nel quadro della Smart Metrology: caso di standard di taratura
  • 10:20
  • Jean-Michel POU – Deltamu, Laurent LEBLOND – PSA / Francia
• Poster: Smart Metrology
  • 13:45-15:15
  • Jean-Michel POU – Deltamu, Laurent LEBLOND – PSA / Francia

Giovedi, 21 settembre

• Conferenza: Il metodo della deriva della FD X 07-014: più di un semplice metodo di ottimizzazione
  • 09:20
  • Olivier DEMARS, Christophe DUBOIS – Deltamu / Francia

Non perdere l’appuntamento, vi aspettiamo sul posto!